科研成果
一种分子印迹结合静默区内标SERS技术高精度检测CEA的方法
专利名称:一种分子印迹结合静默区内标SERS技术高精度检测CEA的方法
专利类型:发明专利
专利号:ZL2019107651608
专利申请日期:2019-08-19
联系人:刘老师
联系电话:059122869422
专利名称:一种分子印迹结合静默区内标SERS技术高精度检测CEA的方法
专利类型:发明专利
专利号:ZL2019107651608
专利申请日期:2019-08-19
联系人:刘老师
联系电话:059122869422