科研成果

一种改善有机薄膜晶体管稳定性的方法

发布日期:1970年01月01日浏览次数:39 打印

    本发明专利(专利号:ZL.201410011958.0),公开了一种改善有机薄膜晶体管稳定性的方法,所述的有机薄膜晶体管包括栅电极、源电极、漏电极、有源层和绝缘层,所述的有源层为微量有机小分子掺杂的有机半导体材料。本发明采用简单的微掺杂法,将有机小分子掺杂的有机半导体材料作为有机薄膜晶体管的有源层;有效改善了有机薄膜晶体管的稳定性,提高器件使用寿命;方法简单,成本低,有利于推广应用,具备显著的经济和社会效益。

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联系人:马良

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